在光譜的測(cè)量、各參考點(diǎn)通路信號(hào)光功率、各參考點(diǎn)光信噪比、光放大器各個(gè)波長(zhǎng)的增益系數(shù)和增益平坦度的測(cè)試都可以使用光譜分析儀。

　　光譜分析儀的屏幕顯示測(cè)量條件、標(biāo)記值、其它數(shù)據(jù)以及測(cè)量波形。

　　1 光譜譜寬的測(cè)量

　　譜寬即光譜的帶寬，使用光譜分析儀可以測(cè)量LD、發(fā)光二極管的譜寬。在光譜的譜寬測(cè)量時(shí)，要特別注意光譜分析儀系統(tǒng)分辨率的選擇，即原理上光譜分析儀的分辨率應(yīng)當(dāng)小于被測(cè)信號(hào)譜寬的1/10.，一般推薦設(shè)置為至少小于被測(cè)信號(hào)譜寬的1/5。

　　在實(shí)際的測(cè)量中，為了能夠準(zhǔn)確測(cè)量數(shù)據(jù)，一般選擇分辨率帶寬為0.1nm以下。分辨率帶寬RES位于SETUP菜單中的第一項(xiàng)，直接輸入所要設(shè)定的分辨率帶寬的大小即可，當(dāng)選擇的分辨率帶寬不同時(shí)，從光譜分析儀觀察到的光譜形狀有很大的不同，并且所測(cè)量得到的譜寬大小的不同。

　　2 邊模抑制比的測(cè)量

　　邊模抑制比，SMSR表示峰值能級(jí)與橫模能級(jí)之間的能級(jí)差值。

　　一般測(cè)量邊模抑制比時(shí)，需要配合使用MARKER菜單和ANALYSIS菜單中相應(yīng)的鍵。用MARKER菜單對(duì)主波峰值和最高的副波峰進(jìn)行標(biāo)識(shí)，讀取兩者的峰值功率值。邊模抑制比為最高峰與次高峰之間的能級(jí)差。可以通過(guò)ANALYSIS菜單中相應(yīng)的子選項(xiàng)計(jì)算得到最后的值。

　　3 增益的測(cè)量

　　在進(jìn)行OA板或光放大器模塊測(cè)試的時(shí)候，需要測(cè)試增益參數(shù)(Gain)。增益定義為輸出信號(hào)功率 Pout 與輸入信號(hào)功率 Pin 之比。

　　在進(jìn)行增益的測(cè)量時(shí)，需要用到TRACE菜單中的相關(guān)選項(xiàng)。首先將Trace A設(shè)置為未接放大器之前的輸入光，按下 Fix A；再將Trace B設(shè)置為經(jīng)過(guò)光纖放大器之后的輸出光，按下Fix B;取兩者的峰值功率，即可計(jì)算出。

　　4 噪聲系數(shù)的測(cè)量

　　光譜分析儀的一項(xiàng)重要功能是測(cè)量EDFA的等效噪聲噪聲系數(shù)(NF)，簡(jiǎn)稱(chēng)噪聲系數(shù)。

　　目前所有的光譜分析儀一般都采用內(nèi)插減源法、時(shí)域消光法、偏振消光法等光放大器噪聲系數(shù)測(cè)量方法，不同的測(cè)量方法得到不同的噪聲系數(shù)的測(cè)量精度。內(nèi)插減源法采用了曲線擬合的算法。在信號(hào)的波長(zhǎng)中插入ASE，并采用四點(diǎn)兩次或者更精確的曲線擬合法來(lái)計(jì)算噪聲的大小。

　　5 系統(tǒng)OSNR的測(cè)量

　　在DWDM系統(tǒng)中，光信噪比(OSNR)能夠比較準(zhǔn)確地反映信號(hào)質(zhì)量，成為常用的性能指標(biāo)。

　　使用光譜分析儀測(cè)量OSNR常用的方法是積分法。通常采用光譜分析儀所能提供的最小分辨率帶寬(RBW)掃描待測(cè)光譜，用積分的方法計(jì)算中心頻率左右Br范圍內(nèi)的功率為信號(hào)功率，信道中間Bm范圍內(nèi)的功率為噪聲功率，兩者相比得到OSNR。信號(hào)光功率的積分范圍一般取0.4 nm的帶寬范圍；噪聲功率的積分范圍要取0.4 nm和0.1 nm的帶寬范圍內(nèi)的功率。一般用0.4nm帶寬范圍內(nèi)的信號(hào)光功率減去0.4nm帶寬范圍內(nèi)的噪聲光功率，再用其差值除以0.1nm帶寬范圍內(nèi)的噪聲光功率，之后再取10倍的對(duì)數(shù)值，可計(jì)算出OSNR的大小。