安捷倫 Agilent E7402A 頻譜分析儀，

主要特性與技術(shù)指標(biāo)性能. 1 Hz 至 5 MHz（包括 200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI 帶寬）. +12.5 dBm TOI. ≤ 150 dBm 顯示平均噪聲電平（DANL）. 可選（UKB）用于 100 Hz 低頻特性. 對數(shù)掃描. 內(nèi)置前置放大器. 可選的跟蹤發(fā)生器. 標(biāo)配選件：A4H、AYQ、B72、UKB、060、1DR、1DS軟件. 兼容 E7415A EMI 軟件. 兼容 BenchLink Web 遠程控制軟件描述盡早測試設(shè)計的 EMI 性能對于打造成功的產(chǎn)品至關(guān)重要。E7402A EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀提供了您所需要的功能，使內(nèi)部 EMI 預(yù)先*性測試成為可能。

EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀通過內(nèi)置更多可以提高生產(chǎn)效率的選件并保證快速交付，為您創(chuàng)造大價值。輻射發(fā)射當(dāng)與寬帶天線配合使用時，E7402A 能夠檢測您的被測件所散發(fā)的輻射發(fā)射。在沒有反射目標(biāo)的區(qū)域（例如開闊地）或 EMI 室內(nèi)，它的表現(xiàn)尤為出眾。

傳導(dǎo)發(fā)射通過使用線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）器件或功率吸收鉗，將 E7402A 儀器與電源線或數(shù)據(jù)線耦合，您可以對電源線或數(shù)據(jù)線產(chǎn)生的噪聲或受到的干擾信號進行測量。故障診斷和隔離如果您遇到發(fā)射問題，可以使用 E7402A 和近場探頭來隔離和診斷故障源。11940A 近場探頭，30 MHz 至 1 GHz11941A 近場探頭，9 kHz 至 30 MHzE7402A 可以單獨購買，或與 84115EM 預(yù)先*性測試系統(tǒng)一起購買。

安捷倫 Agilent E7402A 頻譜分析儀