寬波段覆蓋：精準(zhǔn)覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，無(wú)需更換設(shè)備即可滿足光通信領(lǐng)域多波段測(cè)試需求，適配主流光通信系統(tǒng)測(cè)試場(chǎng)景。

超高精度與穩(wěn)定性：±1pm 波長(zhǎng)精度確保波長(zhǎng)輸出精準(zhǔn)，避免波長(zhǎng)偏差影響測(cè)試數(shù)據(jù)；±0.01dB 功率穩(wěn)定性，保障長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試中功率輸出平穩(wěn)，提升測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性。

高速掃描能力：支持 100nm/s 高速掃描模式，相比普通設(shè)備大幅縮短掃描時(shí)間，尤其適合批量測(cè)試或高效研發(fā)場(chǎng)景，提升整體工作效率。

低偏振相關(guān)損耗：集成低 PDL 設(shè)計(jì)（PDL<0.05dB），減少偏振變化對(duì)激光輸出的影響，確保在不同偏振狀態(tài)下測(cè)試結(jié)果的一致性。

內(nèi)置波長(zhǎng)校準(zhǔn)：自帶波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能，無(wú)需額外搭配校準(zhǔn)設(shè)備，簡(jiǎn)化操作流程，降低使用門檻，同時(shí)保障長(zhǎng)期使用中的波長(zhǎng)精度，減少維護(hù)成本。

便捷服務(wù)支持：通過(guò)美佳特科技可獲取 TSL510 手冊(cè)、中文說(shuō)明書，便于快速熟悉設(shè)備操作；同時(shí)提供價(jià)格咨詢服務(wù)，為采購(gòu)決策提供清晰參考。

光通信研發(fā)場(chǎng)景：適用于光通信模塊、光傳輸系統(tǒng)的研發(fā)過(guò)程，可提供精準(zhǔn)穩(wěn)定的激光光源，助力研發(fā)人員開(kāi)展波長(zhǎng)特性、功率傳輸?shù)刃阅軠y(cè)試，加速研發(fā)進(jìn)度。

DWDM 測(cè)試場(chǎng)景：在密集波分復(fù)用（DWDM）系統(tǒng)測(cè)試中，能夠覆蓋多波段波長(zhǎng)，支持高速掃描，可高效完成 DWDM 系統(tǒng)的信道測(cè)試、插損測(cè)試等，保障系統(tǒng)傳輸質(zhì)量。

光器件表征場(chǎng)景：用于光耦合器、光濾波器、光開(kāi)關(guān)等光器件的性能表征，憑借超高波長(zhǎng)精度與低 PDL，精準(zhǔn)測(cè)量器件的波長(zhǎng)響應(yīng)、偏振相關(guān)特性等關(guān)鍵參數(shù)，為器件質(zhì)量把控提供依據(jù)。

硅光芯片測(cè)試場(chǎng)景：適配硅光芯片的研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試，硅光芯片對(duì)激光精度要求較高，Santec TSL510 的 ±1pm 波長(zhǎng)精度與穩(wěn)定功率輸出，可滿足硅光芯片的光性能測(cè)試需求，助力硅光技術(shù)產(chǎn)業(yè)化。

實(shí)驗(yàn)室精密測(cè)試場(chǎng)景：科研實(shí)驗(yàn)室開(kāi)展光學(xué)相關(guān)研究時(shí)，需要高精度、高穩(wěn)定的激光光源，Santec TSL510 可作為核心測(cè)試設(shè)備，支持各類精密光學(xué)實(shí)驗(yàn)，為科研數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性提供保障。

生產(chǎn)產(chǎn)線質(zhì)檢場(chǎng)景：在光通信設(shè)備、光器件的生產(chǎn)產(chǎn)線中，可作為質(zhì)檢設(shè)備，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行批量性能測(cè)試，高速掃描功能提升質(zhì)檢效率，高精度特性確保質(zhì)檢結(jié)果可靠，幫助企業(yè)把控產(chǎn)品出廠質(zhì)量。