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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B精度指標(biāo)主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...
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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B操作說明主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...
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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B規(guī)格范圍主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...
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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B說明書主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有磁...
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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B選件配置主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...
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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B二手價(jià)格主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...
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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B指標(biāo)參數(shù)主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...
